Dokumentation af mikro- og nanostrukturerede produkter

Senest opdateret d. 7/3-2013
FORCE Technology
Resultatkontrakt 2013-2015 under temaerne Produktionsteknologi
Direktør, Marked og Innovation, Jens Roedsted

Aktivitetens formål er at udvikle og afprøve sporbare, hurtige og pålidelige overflademålinger af mikro- og nanostrukturerede overflader og verificere produkternes funktion gennem avancerede overflade­ana­ly­ser, herunder at udbyde akkrediterede 3D ruhedsmålinger, der dækker spektret for produktrelevante måleområder - fra nm til cm.Mere konkret vil aktiviteten udvikle følgende:

  • Pålidelige og spor­bare analyse- og karakteriseringsmetoder til mikro- og nanostrukturerede overflader (metal, plast, kompositter mv.).
  • Replikateknikker til brug on-site i forbindelse med produktudvikling, procesoptimering, samt kvalitetssikring af produkter og produktionsværktøjer.
  • En national spidskompetence indenfor karakterisering af ikke-plane mikro- og nanostrukturerede produkter/overflader, herunder konvekse og konkave overflader.
  • Rådgivningsydelser, relateret til overflader, i forbindelse med funktionalitet, design, procesoptimering, kvalitetssikring, materialevalg, ældning, slid, mv.

FORCE Technology vil som led i aktiviteten tage initiativ til etableringen af en national testfacilitet, hvor materialer, produkter og værktøjer kan testes og verificeres for funktionelle egenskaber. Kun få videninstitutioner har i dag det nødvendige karak­teri­seringsudstyr, da dette er højt specialiseret og kræver særligt uddan­nede specialister, og endnu færre virksomheder har mulighed for at investere i det meget dyre og avancerede udstyr. Det er således visionen at skabe et testcenter for den bredere del af industrien til udvikling og test af nye innovative mikro- og nanostrukturerede produkter gennem samarbejde mellem relevante aktører. En sådan samlet facilitet er ikke til rådighed for industrien i dag.Der er indgået aftale om samarbejde og fælles projektaktiviteter med DFM (Dansk Fundamental Metrologi), som er nationalt referencelaboratorium for målinger af længde og som udvikler og vedligeholder primær- og reference-normaler. DFM’s bidrag vil fokusere på at videregive sporbarheden. Platformen for dette samarbejde med DFM er bl.a. etableret gennem innovationskonsortiet NaKIM, hvor synergieffekter indenfor karakterisering af mikro- og nanopartikler er udbygget. NaKIM-projektet afsluttes i 2012.