Dokumentation af mikro- og nanostrukturerede produkter
Senest opdateret 11.02.2013
Dokumentation af mikro- og nanostrukturerede produkter

Opsummering

Aktivitetens formål er at udvikle og afprøve sporbare, hurtige og pålidelige overflademålinger af mikro- og nanostrukturerede overflader og verificere produkternes funktion gennem avancerede overflade­ana­ly­ser, herunder at udbyde akkrediterede 3D ruhedsmålinger, der dækker spektret for produktrelevante måleområder - fra nm til cm.Mere konkret vil aktiviteten udvikle følgende:
Pålidelige og spor­bare analyse- og karakteriseringsmetoder til mikro- og nanostrukturerede overflader (metal, plast, kompositter mv.).
Replikateknikker til brug on-site i forbindelse med produktudvikling, procesoptimering, samt kvalitetssikring af produkter og produktionsværktøjer.
En national spidskompetence indenfor karakterisering af ikke-plane mikro- og nanostrukturerede produkter/overflader, herunder konvekse og konkave overflader.
Rådgivningsydelser, relateret til overflader, i forbindelse med funktionalitet, design, procesoptimering, kvalitetssikring, materialevalg, ældning, slid, mv.

FORCE Technology vil som led i aktiviteten tage initiativ til etableringen af en national testfacilitet, hvor materialer, produkter og værktøjer kan testes og verificeres for funktionelle egenskaber. Kun få videninstitutioner har i dag det nødvendige karak­teri­seringsudstyr, da dette er højt specialiseret og kræver særligt uddan­nede specialister, og endnu færre virksomheder har mulighed for at investere i det meget dyre og avancerede udstyr. Det er således visionen at skabe et testcenter for den bredere del af industrien til udvikling og test af nye innovative mikro- og nanostrukturerede produkter gennem samarbejde mellem relevante aktører. En sådan samlet facilitet er ikke til rådighed for industrien i dag.Der er indgået aftale om samarbejde og fælles projektaktiviteter med DFM (Dansk Fundamental Metrologi), som er nationalt referencelaboratorium for målinger af længde og som udvikler og vedligeholder primær- og reference-normaler. DFM’s bidrag vil fokusere på at videregive sporbarheden. Platformen for dette samarbejde med DFM er bl.a. etableret gennem innovationskonsortiet NaKIM, hvor synergieffekter indenfor karakterisering af mikro- og nanopartikler er udbygget. NaKIM-projektet afsluttes i 2012.
Læs mere
Pulje
Kategorier
GTS-Institutter
GTS_logoer_samlet_FORCE
Del på sociale medier
Kontaktpersoner
avatar.png
Direktør, Marked og Innovation, Jens Roedsted

Opsummering

Aktivitetens formål er at udvikle og afprøve sporbare, hurtige og pålidelige overflademålinger af mikro- og nanostrukturerede overflader og verificere produkternes funktion gennem avancerede overflade­ana­ly­ser, herunder at udbyde akkrediterede 3D ruhedsmålinger, der dækker spektret for produktrelevante måleområder - fra nm til cm.Mere konkret vil aktiviteten udvikle følgende:
Pålidelige og spor­bare analyse- og karakteriseringsmetoder til mikro- og nanostrukturerede overflader (metal, plast, kompositter mv.).
Replikateknikker til brug on-site i forbindelse med produktudvikling, procesoptimering, samt kvalitetssikring af produkter og produktionsværktøjer.
En national spidskompetence indenfor karakterisering af ikke-plane mikro- og nanostrukturerede produkter/overflader, herunder konvekse og konkave overflader.
Rådgivningsydelser, relateret til overflader, i forbindelse med funktionalitet, design, procesoptimering, kvalitetssikring, materialevalg, ældning, slid, mv.

FORCE Technology vil som led i aktiviteten tage initiativ til etableringen af en national testfacilitet, hvor materialer, produkter og værktøjer kan testes og verificeres for funktionelle egenskaber. Kun få videninstitutioner har i dag det nødvendige karak­teri­seringsudstyr, da dette er højt specialiseret og kræver særligt uddan­nede specialister, og endnu færre virksomheder har mulighed for at investere i det meget dyre og avancerede udstyr. Det er således visionen at skabe et testcenter for den bredere del af industrien til udvikling og test af nye innovative mikro- og nanostrukturerede produkter gennem samarbejde mellem relevante aktører. En sådan samlet facilitet er ikke til rådighed for industrien i dag.Der er indgået aftale om samarbejde og fælles projektaktiviteter med DFM (Dansk Fundamental Metrologi), som er nationalt referencelaboratorium for målinger af længde og som udvikler og vedligeholder primær- og reference-normaler. DFM’s bidrag vil fokusere på at videregive sporbarheden. Platformen for dette samarbejde med DFM er bl.a. etableret gennem innovationskonsortiet NaKIM, hvor synergieffekter indenfor karakterisering af mikro- og nanopartikler er udbygget. NaKIM-projektet afsluttes i 2012.
Læs mere

Aktiviteter for dette indsatsområde​

Filtrer efter status
Status
Der er ikke oprettet aktiviteter for dette indsatsområde

Vælg dine påmindelser

Vælg hvordan du vil modtage påmindelser. Du kan afmelde fremtidige påmindelser ved at trykke på afmeld i emailen.

EMAIL *

GTS Login

Log ind som GTS bruger for at administrere dine indsatsområder og aktiviteter.

E-mail *
Password *