Aktivitetens formål er at udvikle og afprøve sporbare, hurtige og pålidelige overflademålinger af mikro- og nanostrukturerede overflader og verificere produkternes funktion gennem avancerede overfladeanalyser, herunder at udbyde akkrediterede 3D ruhedsmålinger, der dækker spektret for produktrelevante måleområder - fra nm til cm.Mere konkret vil aktiviteten udvikle følgende: Pålidelige og sporbare analyse- og karakteriseringsmetoder til mikro- og nanostrukturerede overflader (metal, plast, kompositter mv.). Replikateknikker til brug on-site i forbindelse med produktudvikling, procesoptimering, samt kvalitetssikring af produkter og produktionsværktøjer. En national spidskompetence indenfor karakterisering af ikke-plane mikro- og nanostrukturerede produkter/overflader, herunder konvekse og konkave overflader. Rådgivningsydelser, relateret til overflader, i forbindelse med funktionalitet, design, procesoptimering, kvalitetssikring, materialevalg, ældning, slid, mv. FORCE Technology vil som led i aktiviteten tage initiativ til etableringen af en national testfacilitet, hvor materialer, produkter og værktøjer kan testes og verificeres for funktionelle egenskaber. Kun få videninstitutioner har i dag det nødvendige karakteriseringsudstyr, da dette er højt specialiseret og kræver særligt uddannede specialister, og endnu færre virksomheder har mulighed for at investere i det meget dyre og avancerede udstyr. Det er således visionen at skabe et testcenter for den bredere del af industrien til udvikling og test af nye innovative mikro- og nanostrukturerede produkter gennem samarbejde mellem relevante aktører. En sådan samlet facilitet er ikke til rådighed for industrien i dag.Der er indgået aftale om samarbejde og fælles projektaktiviteter med DFM (Dansk Fundamental Metrologi), som er nationalt referencelaboratorium for målinger af længde og som udvikler og vedligeholder primær- og reference-normaler. DFM’s bidrag vil fokusere på at videregive sporbarheden. Platformen for dette samarbejde med DFM er bl.a. etableret gennem innovationskonsortiet NaKIM, hvor synergieffekter indenfor karakterisering af mikro- og nanopartikler er udbygget. NaKIM-projektet afsluttes i 2012.
Aktivitetens formål er at udvikle og afprøve sporbare, hurtige og pålidelige overflademålinger af mikro- og nanostrukturerede overflader og verificere produkternes funktion gennem avancerede overfladeanalyser, herunder at udbyde akkrediterede 3D ruhedsmålinger, der dækker spektret for produktrelevante måleområder - fra nm til cm.Mere konkret vil aktiviteten udvikle følgende: Pålidelige og sporbare analyse- og karakteriseringsmetoder til mikro- og nanostrukturerede overflader (metal, plast, kompositter mv.). Replikateknikker til brug on-site i forbindelse med produktudvikling, procesoptimering, samt kvalitetssikring af produkter og produktionsværktøjer. En national spidskompetence indenfor karakterisering af ikke-plane mikro- og nanostrukturerede produkter/overflader, herunder konvekse og konkave overflader. Rådgivningsydelser, relateret til overflader, i forbindelse med funktionalitet, design, procesoptimering, kvalitetssikring, materialevalg, ældning, slid, mv. FORCE Technology vil som led i aktiviteten tage initiativ til etableringen af en national testfacilitet, hvor materialer, produkter og værktøjer kan testes og verificeres for funktionelle egenskaber. Kun få videninstitutioner har i dag det nødvendige karakteriseringsudstyr, da dette er højt specialiseret og kræver særligt uddannede specialister, og endnu færre virksomheder har mulighed for at investere i det meget dyre og avancerede udstyr. Det er således visionen at skabe et testcenter for den bredere del af industrien til udvikling og test af nye innovative mikro- og nanostrukturerede produkter gennem samarbejde mellem relevante aktører. En sådan samlet facilitet er ikke til rådighed for industrien i dag.Der er indgået aftale om samarbejde og fælles projektaktiviteter med DFM (Dansk Fundamental Metrologi), som er nationalt referencelaboratorium for målinger af længde og som udvikler og vedligeholder primær- og reference-normaler. DFM’s bidrag vil fokusere på at videregive sporbarheden. Platformen for dette samarbejde med DFM er bl.a. etableret gennem innovationskonsortiet NaKIM, hvor synergieffekter indenfor karakterisering af mikro- og nanopartikler er udbygget. NaKIM-projektet afsluttes i 2012.
GTS Login
Log ind som GTS bruger for at administrere dine indsatsområder og aktiviteter.